MIL-C-15479C

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【英文标准名称】:StandardPracticeforDeterminationofUniformityofThin-FilmsonSiliconWafers
【原文标准名称】:测定硅片薄膜均匀性的标准规程
【标准号】:ASTMF1618-1996
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1996
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:薄片;硅氧烷;薄膜
【英文主题词】:thinfilms;wafers;silicones
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Methodsfordeterminationofcommercialmassofconsignmentsoftextiles-Methodsforobtaininglaboratorysamples
【原文标准名称】:纺织品商业发货重量的测定方法.第2部分:实验室样品的采取方法
【标准号】:BS4784-2-1988
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1988-01-29
【实施或试行日期】:1988-01-29
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:采样位置;试样;抽样方法;纺织材料;商业质量测定;发票;质量(物质);纺织技术;样本;试验设备
【英文主题词】:testing;yarns;textiles;textilefibres;tests;determination;samplingmethods;yarn
【摘要】:
【中国标准分类号】:W08
【国际标准分类号】:59_060_01
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语